湖北武汉三维扫描设计哪里有？三维产品正逆向设计

　　湖北武汉三维扫描设计哪里有？三维产品正逆向设计
　　1.总体技术要求
　　*扫描方式：激光手持照相式
　　*扫描技术：激光线网格扫描技术
　　帧扫描区域：250mm×230mm
　　景深：250mm
　　工作距离：300mm
　　*扫描速率：240000次/秒
　　扫描分辨率：0.050 （毫米）
　　*测量精度：较高0.03 mm
　　*体积精度：0.020 + 0.100（毫米/米）
　　体积精度（结合DigiMetric）：0.020 + 0.025（毫米/米）
　　测量范围（物件尺寸）：0.1 ～6米，可扩展
　　传输方式：USB3.0
　　工作温度：-10 - 40℃
　　工作湿度：10 - 90 %
　　2.三维光学扫描系统配置与功能要求
　　(1) 数据采集传感器：高速、高精密工业级相机2台
　　(2)内置微惯性传感器，实时输出设备位姿；
　　(3)测量光源：6 束交叉激光线，激光级别ClassII(人眼安全)，波长大于600纳米
　　(4)计算机系统：支持windows 7，32位和64位操作系统，支持内存16G以上
　　(5)拼接方式：系统整合“专业模式”全自动标志点拼接模块
　　(6)全局误差控制方式：系统整合GREC Pro全局误差控制模块
　　(7)使用方便：整个过程全部手持完成，无需三脚架等支撑装置
　　(8)所测量的物体表面可不做任何形式（如贴标识和喷白）的预先处理
　　(9)普通环境下可以测量鎏金等高光亮物体以及黑色物体
　　(10)防抖设计：采用先进的防抖动算法，防止扫描过程中人为的抖动对误差的影响
　　3.三维光学扫描系统软件功能要求
　　* 全中文软件界面
　　* 自适应形面扫描模块
　　(1) 自动调节系统参数，自适应各种材质/颜色表面的不同扫描对象，无需手动调节；
　　(2) 可变点距扫描，在同一次扫描中，可对点距进行灵活设置和改变，同时满足高速扫描以及精细扫描的需求
　　* 自动拼接模块
　　(1) 智能标志点识别技术：系统自动跟踪识别标志点；
　　(2) 惯性—光学混合式传感器定 位技术，实时将数据自动配准到同一坐标系；
　　(3) GREC Pro全局误差控制模块，可对拼接后的误差进行全局控制；
　　*全局框架扫描模块
　　(1)全局框架扫描技术，对框架点累积误差进行全局控制；
　　(2)兼容DigiMetric系统，搭载全局摄影测量技术可将扫描范围扩展至几十米；
　　点云处理模块
　　扫描数据后，可进行点云噪声处理及修剪
　　基于曲率的点云精简功能
　　自动生成三角面
　　数据输入输出
　　导出结果为ASC，STL，OBJ，OKO等格式数据输出接口广泛,测量结果可与CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程软件自由交换数据。
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